第十四屆全國AOI論壇與展覽

　　宏明科技有限公司　Hong-Ming Technology Co., Ltd.

本次展出

● AOI設備

● 光學系統

● 取像系統

○ 影像分析

○ 運動控制

○ 其他

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展出品牌

HMT

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展品資料

[ITO-001 ITO薄膜影像量測儀]

檢測功能：ITO薄膜之外觀量測

檢測速度：0.5-3秒

接收模式：顯微分光系統

檢測平台：100mm*100mm手動平台

光源：高瓦數鹵素光源

標準型：5X, 10X, 20X 近紅外光物鏡

適用基材：玻璃、PET

適合自動化檢測機台之整合應用

[ATR-1線上穿透/膜厚量測系統]

檢測功能：穿透率/膜厚

光譜量測範圍：400-800nm/400-1000nm/

1000-1650nm

光譜解析度：2nm

接收模式：聚焦鏡及積分球系統

含積分球自動自主校正系統(無須離線校正)

[MS-001顯微分光光譜儀]

檢測功能：穿透率、反射率

波長範圍：380-950nm or custom

光學解析度：0.5-5nm

檢測速度：0.5-3 sec.

精確度：1nm

再現性：±1%

可加掛電子目鏡、聚焦可至0.05mm

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展品圖

ITO導電薄膜內部缺陷量測儀

ATR-1線上穿透/膜厚量測系統

MS-001顯微分光光譜儀

基本資料

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地址

新北市樹林區中山路一段390號

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業務聯絡人

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電子信箱

林佳君

may@hmtech.com.tw

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電話

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傳真

02-86751543#14

02-86751545

公司介紹

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公司性質

AOI相關元件/模組/平台供應商、AOI設備供應商

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公司簡介

宏明科技以真實呈現光的特性為願景，提供光為媒介的各式產品之最佳管理途徑，自行開發生產各式光學先端技術檢測儀器，並代理銷售國內外理化實驗相關儀器、耗材及藥品。

目前光學檢測設備已成為材料製程、品管流程的必備要件。宏明專精於光學特性檢測技術(穿透率、反射率、光學膜厚、色度)及螢光色譜檢測技術，並整合相關自動化技術，可應用在一般生物及化學實驗、光學鍍膜、表面處理、發光材料、PLED、OLED、生物晶片、微機電系統之研發及生產工作。過去在太陽能電池相關檢測設備之開發有諸多成效，並在觸控面板之微孔穿透率量測亦有相當顯著成果，近期投入半導體相關光學檢測之開發並已漸有成果，本公司旨在提供業界齊全的產品，因應廣泛客戶需求。

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AOI主力產品

ITO-001 ITO薄膜影像量測儀
ATR-1 線上穿透/膜厚量測系統
MS-001 顯微分光光譜儀
CR-001 IC邊裂IR影像缺陷檢測系統
近紅外光影像擷取系統
光纖式可見光、紫外光、近紅外光分光光譜儀
可攜帶式拉曼光譜儀
多功能光學特性檢測系統
光學膜厚儀